統計的なロスの範囲におけるパワー半導体デバイスの特性の測定質を向上させる手法

28 December 2012

Alexey Poleshchuk/ 設備エンジニア

パワー半導体メーカーは、静的損失を最小限に抑え、残りのすべてのパワー半導体特性を必要なレベルに維持するために最善を尽くしています。このアプローチにより、最新技術を使用している場合でも、同じロットで半導体パラメーターが十分に大きく広がります。

住所: 〒302040、ロシア、オリョール州、オリョール市、Leskova str., 19, 27, 14号室

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